PATENT

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2016[KIPO] 반도체 공정에서 불량을 분류 및 진단하는 장치 및 방법1020160161632
2015[USPTO] Method and apparatus for discovering equipment causing product defect in manufacturing process14674383
2015[KIPO] 반도체 제조 공정에서의 이상 감지 방법, 장치 및 기록매체 (Method and apparatus for detecting fault in the semiconductor manufacturing process and recording medium thereof)10152238500001020140053625
2015[KIPO] 수요 예측 방법 및 수요 예측 장치 (Apparatus and method for forecasting demand)10150429200001020140084329
2014[KIPO] 인터락시스템 및 그 평가방법 (Interlock system and the appreciation method)10143512500001020070058048
2014[KIPO] 제조 공정에서의 제품 불량의 원인 설비를 탐지하는 방법 및 장치 (Method and apparatus for discovering the equipment causing product faults in manufacturing process)10146679800001020140060603

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